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Process integration technologies for sub-half micron BiCMOS LSls
Authors:T. Yamazaki  K. Imai  H. Yoshida  Y. Kinoshita  H. Suzuki
Affiliation:(1) Logic Device Development Laboratory ULSI Device Development Laboratorties, NEC Corporation, 1120, Shimokuzawa, Sagamihara, 229 Kanagawa, Japan
Abstract:Contents The process integration issues and various approches to reduce process steps for high performance/low cost sub-half micron BiCMOS LSIs are reviewed. Using these technologies, the bipolar transistor process is added with minimum increase in process complexity, while maintaining compatiblity with a state-of-the-art CMOS process. Future prospects for high performance BiCMOS device/process technologies are addressed.
Technologien der Prozeßintegration für Sub-half Micron BiCMOS LSls
Übersicht Aspekte der Prozeßintegration sowie verschiedene Ansätze zur Reduzierung der Prozeßschritte für hochleistungsfähige und preisgünstige sub-half micron BiCMOS LSIs werden in diesem Aufsatz diskutiert. Die Anwendung der zu beschreibenden Technologien ermöglicht das Hinzufügen des Bipolartransistor-Prozesses bei einem nur minimalen Anstieg der Prozeßkomplexität und Erhalt der Kompatibilität zur gegenwärtigen CMOS-Technologie. Abschließend werdenZukunftsperspektiven der BiCMOS-Technologie erörtert.


The authors would like to thank Drs. M. Kamoshida, K. Okada and M. Nakamae for their encouragement throughout this work.
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