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牛津MDX1060荧光分析仪探测器通道的清洗方法
引用本文:支俊秉,张旭.牛津MDX1060荧光分析仪探测器通道的清洗方法[J].水泥工程,2007(2):66-68.
作者姓名:支俊秉  张旭
作者单位:山西省新绛威顿水泥有限责任公司,山西,新绛,043100
摘    要:山西省新绛威顿水泥有限责任公司(以下简称我公司)于2001年购买了一台牛津仪器公司生产的MDX1060八通道X荧光分析仪。由于长时间的工作使用,猝灭气体甲烷分解产生的碳附着在探测器壁和阳极丝上。使得测量的X射线强度明显下降,所有样品的检验结果严重偏低。为此我们于4月份对设备进行了拆卸.并按牛津公司技术人员提供的清洗方法——用高电流烧了一次各元素的探测器纤丝.经处理后测量的X射线强度明显上升,所有样品的检验结果也恢复原样。现将探测器通道的清洗过程做一简单描述,以供同行们参考。

关 键 词:X荧光分析仪  清洗方法  探测器  八通道  牛津  有限责任公司  射线强度  检验结果
文章编号:1007-0389(2007)02-0066-03
收稿时间:2007-01-17
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