牛津MDX1060荧光分析仪探测器通道的清洗方法 |
| |
作者姓名: | 支俊秉 张旭 |
| |
作者单位: | 山西省新绛威顿水泥有限责任公司,山西,新绛,043100 |
| |
摘 要: | 山西省新绛威顿水泥有限责任公司(以下简称我公司)于2001年购买了一台牛津仪器公司生产的MDX1060八通道X荧光分析仪。由于长时间的工作使用,猝灭气体甲烷分解产生的碳附着在探测器壁和阳极丝上。使得测量的X射线强度明显下降,所有样品的检验结果严重偏低。为此我们于4月份对设备进行了拆卸.并按牛津公司技术人员提供的清洗方法——用高电流烧了一次各元素的探测器纤丝.经处理后测量的X射线强度明显上升,所有样品的检验结果也恢复原样。现将探测器通道的清洗过程做一简单描述,以供同行们参考。
|
关 键 词: | X荧光分析仪 清洗方法 探测器 八通道 牛津 有限责任公司 射线强度 检验结果 |
文章编号: | 1007-0389(2007)02-0066-03 |
收稿时间: | 2007-01-17 |
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录! |