采用双三次插值的空间目标偏振成像 |
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引用本文: | 马岩,张超子,刘也,张哲.采用双三次插值的空间目标偏振成像[J].光学精密工程,2019,27(12). |
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作者姓名: | 马岩 张超子 刘也 张哲 |
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作者单位: | 北京跟踪与通信技术研究所,北京,100094;中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林长春130033;中国科学院大学,北京100049 |
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摘 要: | 为了解决暗弱场景下空间目标与背景对比度过低,无法区分的问题,采用分焦面偏振成像系统分别对室外暗弱场景、室内空间模拟环境进行成像;为了弥补分焦面偏振成像系统图像分辨率下降的缺点,采用双三次插值算法进行上采样。通过分焦面偏振相机的一次曝光便可获得4个不同偏振角度下的光强图,进而解算出偏振度图像和偏振角图像,并与传统的光强图像进行对比;利用双三次插值算法对4幅光强图进行上采样提高图像分辨率,然后再解算出偏振度图像,与未通过上采样获得的偏振度图像进行对比。实验结果表明,偏振成像较之传统的光强成像,目标的对比度获得了提高,边缘信息、纹理信息得到了更好的展现,偏振度图像与光强图像相比,与对比度有关的EME指标至少提高了17%,双三次插值算法提高了成像分辨率。应用双三次插值算法的分焦面偏振成像系统,对暗弱场景下的空间目标的识别具有潜在的应用价值。
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关 键 词: | 偏振成像 空间目标 分焦面型 双三次插值 |
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