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电缆损耗对自动测试设备的影响
作者姓名:
Bernard
Hyland
摘 要:
1引言 目前有许多测试公司设计、制造并销售引脚数众多的自动测试设备(ATE)。这些测试设备具有非常复杂的集成电路,用于驱动设备的每个引脚。一台测试设备的引脚数可能多达4096个。从图1可以看出:每个引脚通常都有一个相应的驱动器、比较器、负载,有时甚至需要参数测试单元。这些电路通过电缆连接到测试引脚。为了降低成本,供应商可能会选用质量比较差的电缆。而任何电缆,尤其是质量较差的电缆,都会产生损耗。从而降低测试设备的最终性能。
关 键 词:
自动测试设备
电缆损耗
集成电路
驱动设备
测试单元
电缆连接
质量比
引脚
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