首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

磁控溅射制备参数对ZnO薄膜结构和光学性能的影响
引用本文:余花娃,杜亚利,王晶,刘静. 磁控溅射制备参数对ZnO薄膜结构和光学性能的影响[J]. 纺织高校基础科学学报, 2007, 20(2): 181-185
作者姓名:余花娃  杜亚利  王晶  刘静
作者单位:1. 西安工程大学,理学院,陕西,西安,710048;陕西师范大学,物理学与信息技术学院,陕西,西安,710062
2. 西安工程大学,理学院,陕西,西安,710048
3. 陕西师范大学,物理学与信息技术学院,陕西,西安,710062
基金项目:国家自然科学基金资助项目(50271038),国家重点基础研究发展规划基金资助项目(2004CB619302)
摘    要:采用RF磁控溅射法,在硅(100)衬底上生长出高质量(002)晶面取向的ZnO薄膜.通过XRD和透射光谱研究了射频功率和氧气比例对ZnO薄膜的晶粒尺度、应力状态和光学性能的影响.研究结果显示,射频功率在100W下制备的ZnO薄膜,当氧气比例为60%时,能获得单一c轴择优取向和最小半高宽,压应力最小的薄膜,即结晶性较好的薄膜.

关 键 词:磁控溅射  ZnO薄膜  射频功率  结晶性
文章编号:1006-8341(2007)02-0181-05
收稿时间:2006-12-08
修稿时间:2006-12-08

Influence of magnetron sputtering growth parameters on the microstructure and optical properties of ZnO films
YU Hua-Wa,DU Ya-Li,WANG Jing,LIU Jing. Influence of magnetron sputtering growth parameters on the microstructure and optical properties of ZnO films[J]. Basic Sciences Journal of Textile Universities, 2007, 20(2): 181-185
Authors:YU Hua-Wa  DU Ya-Li  WANG Jing  LIU Jing
Abstract:ZnO thin films with(002) orientation have been deposited on Si(100) substrate by radio frequency(RF) magnetron sputtering technique.The influence of RF power and oxygen ratio on the grain size,the residual stress and optical properties was investigated by X-ray diffraction and transmission spectra.The results show that the crystallization of the ZnO film deposited with sputtering power(100W) and oxygen ratio(60%),can obtain its best c-axis orientation and crystallization and tension stress of the film reaches the lowest.
Keywords:magnetron sputtering  ZnO thin films  RF power  crystallization
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号