高分辨率双侧向测井仪的影响因素分析 |
| |
引用本文: | 钮宏,赵养真,区广宇. 高分辨率双侧向测井仪的影响因素分析[J]. 测井技术, 2010, 34(1): 98-102 |
| |
作者姓名: | 钮宏 赵养真 区广宇 |
| |
作者单位: | 中国石油集团测井有限公司技术中心,陕西,西安,710021 |
| |
摘 要: | 在组合测井中,影响高分辨率双侧向测井仪的因素较多,使工作状态出现异常现象。根据EIlog高分辨率双侧向测井仪在使用过程中常遇到偶然出现测值混乱、深侧向在高电阻率地层测值偏低或出现负差异、使用地面N电极测井时测值混乱、组合测井中深侧向易受干扰等问题和现象,针对影响因素从测量原理和实验数据等方面分析探讨,并提出实用有效的解决方法,同时着重阐述了正确使用高分辨率双侧向测井仪所不容忽视的各个主要环节。通过实例对比,进一步验证了高分辨率双侧向测井仪具有良好的测井性能和效果。
|
关 键 词: | 高分辨率双侧向测井仪 影响因素 解决方法 分析探讨 |
Analysis of the Influential Factors on High Resolution Dual Laterolog Tool |
| |
Abstract: | |
| |
Keywords: | |
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录! |
|