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AIN-SiC固溶体的制备及介电性能
引用本文:苏晓磊,李智敏,罗发,朱冬梅,周万城.AIN-SiC固溶体的制备及介电性能[J].材料导报,2008,22(2):129-131.
作者姓名:苏晓磊  李智敏  罗发  朱冬梅  周万城
作者单位:西北工业大学凝固技术国家重点实验室,西安710072
基金项目:国家自然科学基金(50572090)资助项目
摘    要:以碳化硅和铝粉为原料,均匀混合后在不同气氛中于2000℃下保温0.5h制得粉体。用X射线衍射分析(XRD)和扫描电子显微镜(SEM)对其进行表征。同时在8.2~12.4GHz频率范围内测试其介电性能。结果表明:在N2气氛中,当铝的含量较少时,未出现AIN物相,当铝含量超过10at%时,AIN相开始出现,并且AIN的含量随着铝含量的增加而增加。掺杂铝样品与未掺杂铝样品相比,其介电常数实部ε′和介电损耗tanδ皆降低,且随着铝含量的增加而逐步降低,主要是因为AIN具有较低的介电常数实部和损耗。

关 键 词:AIN—SiC  固溶体  扩散  介电常数

Preparation and Dielectric Properties of AIN-SiC Solid Solution
SU Xiaolei, LI Zhimin, LUO Fa, ZHU Dongmei, ZHOU Wancheng.Preparation and Dielectric Properties of AIN-SiC Solid Solution[J].Materials Review,2008,22(2):129-131.
Authors:SU Xiaolei  LI Zhimin  LUO Fa  ZHU Dongmei  ZHOU Wancheng
Abstract:
Keywords:AIN-SiC  solid solution  diffusion  dielectric constant
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