首页
|
本学科首页
官方微博
|
高级检索
全部学科
医药、卫生
生物科学
工业技术
交通运输
航空、航天
环境科学、安全科学
自然科学总论
数理科学和化学
天文学、地球科学
农业科学
哲学、宗教
社会科学总论
政治、法律
军事
经济
历史、地理
语言、文字
文学
艺术
文化、科学、教育、体育
马列毛邓
全部专业
中文标题
英文标题
中文关键词
英文关键词
中文摘要
英文摘要
作者中文名
作者英文名
单位中文名
单位英文名
基金中文名
基金英文名
杂志中文名
杂志英文名
栏目中文名
栏目英文名
DOI
责任编辑
分类号
杂志ISSN号
弹药类产品中电子元器件的失效分析
作者姓名:
仲伟君
赵晓利
李德胜
作者单位:
军械工程学院弹药工程系,河北石家庄050003
摘 要:
为了提高战斗性能,弹药中采用越来越多的电子元器件。由于弹药储运管理环境的特殊性,其中电子元器件的失效模式也与一般装备(设备)有很大不同。首先分析了弹药中电子元器件的种类、全寿命过程中的主要应力及影响,然后结合实际试验,分析其失效模式及对全弹性能的影响。
关 键 词:
弹药失效 电子元器件 失效
本文献已被
维普
等数据库收录!
设为首页
|
免责声明
|
关于勤云
|
加入收藏
Copyright
©
北京勤云科技发展有限公司
京ICP备09084417号