| 互连内建自测试技术的原理与实现 |
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| 引用本文： | 虞美兰,丁琳.互连内建自测试技术的原理与实现[J].微计算机信息,2008,24(5):268-270. |
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| 作者姓名： | 虞美兰 丁琳 |
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| 作者单位： | 无锡,江南计算技术研究所,江苏,214083 |
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| 摘 要： | 芯片间的互连速率已经达到GHz量级,相比较于低速互连,高速互连的测试遇到了新的挑战.本文探讨了高速互连测试的难点,传统互连测试方法的不足,进而介绍了互连内建自测试(IBIST)的结构以及方法,最后给出IBIST在FPGA中的一种实现.
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| 关 键 词： | 高速互连 互连测试 内建自测试 内建自测试技术 原理与实现 Interconnect implementation FPGA 测试方法 结构 互连测试 高速互连 比较 速率 芯片 |
| 文章编号： | 1008-0570(2008)02-2-0268-03 |
| 修稿时间： | 2007年11月13 |
Theory and implementation of Interconnect Built-In-Self-Test |
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| YU MEILAN,DING LIN.Theory and implementation of Interconnect Built-In-Self-Test[J].Control & Automation,2008,24(5):268-270. |
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| Authors: | YU MEILAN DING LIN |
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