| 基于低功耗及加权优化的BIST测试生成器设计实现 |
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| 引用本文： | 谈恩民,叶宏. 基于低功耗及加权优化的BIST测试生成器设计实现[J]. 微电子学与计算机, 2006, 23(12): 26-29 |
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| 作者姓名： | 谈恩民 叶宏 |
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| 作者单位： | 1. 上海交通大学,电子信息与电气工程学院,上海,200030;桂林电子工业学院,电子工程系CAT研究室,广西,桂林,541004
2. 桂林电子工业学院,电子工程系CAT研究室,广西,桂林,541004 |
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| 摘 要： | 测试生成器TPG（Tesl Panern Generation）的构造是BIST（Built—In Self-Test）测试策略的重要组成部分。文章结合加权伪随机测试原理及低功耗设计技术，提出了一种基于低功耗及加权优化的BIST测试生成器设计方案。它根据被测电路CUT（Circuit Under Test）各主输入端口权值构造TPG，在对测试序列优化的同时达到降低功耗的目的。仿真结果验证了该方案的可行性。
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| 关 键 词： | 可测性设计 测试生成器 低功耗 加权伪随机测试 |
| 文章编号： | 1000-7180（2006）12-0026-04 |
| 收稿时间： | 2005-11-23 |
| 修稿时间： | 2005-11-23 |
An Approach for BIST TPG Construction Based on Low-power and Weighted Optimization |
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| Tan En-min,Ye Hong. An Approach for BIST TPG Construction Based on Low-power and Weighted Optimization[J]. Microelectronics & Computer, 2006, 23(12): 26-29 |
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| Authors: | Tan En-min Ye Hong |
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| Affiliation: | 1 School of Electronics and Electric Engineering, Shanghai Jiao tong University, Shanghai 200030;2 CAT, Dept. of Electronic Engineering, GUET, Guilin 541004, China |
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| Abstract: | Construction of TPG(Test Pattern Generation)is the important part of BIST(Built-In Self-Test)test strategy.This paper proposes an approach for TPG construction based on the weighted pseudo-random test theory and low-power design technology.With the primary input ports' weight,the TPG can concurrently achieve low-power and patterns optimized.Simulation result proves the practicability. |
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| Keywords: | BIST |
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