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某光电装备电机驱动电路失效分析
引用本文:芦峰,宋晓明,沈韩,何玉兰,李广良.某光电装备电机驱动电路失效分析[J].电子设计工程,2013,21(8):20-21,26.
作者姓名:芦峰  宋晓明  沈韩  何玉兰  李广良
作者单位:西安应用光学研究所 陕西西安710065
摘    要:驱动电路的性能很大程度上影响整个系统的工作性能。驱动电路的设计中主要考虑功能和性能等方面的因素。本文首先介绍了某平台的电机驱动电路,然后就实际工作及实验中驱动电路出现的失效信息作以分析,对问题进行总结:导致样品失效原因是由于电机产生的反电动势使功率模块内部的三极管芯片产生表面击穿,致使电源与地短路,产生大电流导致功率模块与继电器以及三极管烧毁。最后并提出了解决方案。

关 键 词:驱动电路  失效分析  H桥  PWM

The invalidation analysis on the driving circuit in a photoelectric system
LU Feng , SONG Xiao-ming , SHEN Han , HE Yu-lan , LI Guang-liang.The invalidation analysis on the driving circuit in a photoelectric system[J].Electronic Design Engineering,2013,21(8):20-21,26.
Authors:LU Feng  SONG Xiao-ming  SHEN Han  HE Yu-lan  LI Guang-liang
Affiliation:(Xi’an Institute of Applied Optics,Xi’an 710065,China)
Abstract:
Keywords:
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