| 用于低温半导体器件筛选的新型温度循环设备 |
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| 引用本文： | 吴礼刚,刘大福,朱三根,吴家荣,洪思敏,龚海梅.用于低温半导体器件筛选的新型温度循环设备[J].红外与毫米波学报,2006,25(2):153-156. |
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| 作者姓名： | 吴礼刚 刘大福 朱三根 吴家荣 洪思敏 龚海梅 |
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| 作者单位： | 中国科学院上海技术物理研究所,传感技术国家重点实验室,200083;中国科学院上海技术物理研究所,传感技术国家重点实验室,200083;中国科学院上海技术物理研究所,传感技术国家重点实验室,200083;中国科学院上海技术物理研究所,传感技术国家重点实验室,200083;中国科学院上海技术物理研究所,传感技术国家重点实验室,200083;中国科学院上海技术物理研究所,传感技术国家重点实验室,200083 |
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| 摘 要： | 在某些情况下斯特林制冷机采用间歇式工作方式,以延长卫星在太空中的服务年限,因此由斯特林机致冷的低温半导体器件如HgCdTe中长波红外探测器会经受成千上万次从-173℃以下到常温的温度循环,这个过程可能会造成器件的失效.为了研究器件的失效机理和可靠性,帮助筛选器件,本文介绍了一种自制新型的温度循环实验设备,型号TCE-a.经过数千次温度循环,设备满足器件筛选实验要求.
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| 关 键 词： | 低温半导体 温度循环 环境应力筛选 |
| 文章编号： | 1001-9014（2006）02-0153-04 |
| 收稿时间： | 2005-03-23 |
| 修稿时间： | 2005-09-21 |
NOVEL THERMAL CYCLE SCREENING EQUIPMENT FOR CRYOGENIC SEMICONDUCTOR COMPONENTS |
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| WU Li-Gang,LIU Da-Fu,ZHU San-Gen,WU Jia-Rong,HONG Si-Min,GONG Hai-Mei.NOVEL THERMAL CYCLE SCREENING EQUIPMENT FOR CRYOGENIC SEMICONDUCTOR COMPONENTS[J].Journal of Infrared and Millimeter Waves,2006,25(2):153-156. |
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| Authors: | WU Li-Gang LIU Da-Fu ZHU San-Gen WU Jia-Rong HONG Si-Min GONG Hai-Mei |
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| Affiliation: | State Key Laboratories of Transduce Technology, Shanghai Institute of Technical Physics, Chinese Academy of Sciences, Shanghai 200083, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | cryogenic semiconductor thermal cycle environment stress screen(ESS) |
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