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框架式断路器的触头超程公差仿真分析技术
作者姓名:候东旭  刘爱强  张金泉  王华章
摘    要:基于产品设计中的尺寸管理思想,结合计算机仿真分析软件VSA和分析技术,以框架式断路器为例对断路器的触头超程理论值进行公差分析。通过预测和控制制造偏差、优化设计来提高产品尺寸质量和降低产品生产成本与开发周期。

关 键 词:框架式断路器  仿真分析软件  公差分析  技术  超程  触头  产品设计  产品尺寸
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