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SiGe HBT发射极延迟时间模型
引用本文:胡辉勇,张鹤鸣,戴显英,朱永刚,王顺祥,王伟,崔晓英,王青,王喜媛.SiGe HBT发射极延迟时间模型[J].半导体学报,2005,26(7):1384-1389.
作者姓名:胡辉勇  张鹤鸣  戴显英  朱永刚  王顺祥  王伟  崔晓英  王青  王喜媛
作者单位:西安电子科技大学微电子研究所,西安,710071;西安电子科技大学微电子研究所,西安,710071;西安电子科技大学微电子研究所,西安,710071;西安电子科技大学微电子研究所,西安,710071;西安电子科技大学微电子研究所,西安,710071;西安电子科技大学微电子研究所,西安,710071;西安电子科技大学微电子研究所,西安,710071;西安电子科技大学微电子研究所,西安,710071;西安电子科技大学微电子研究所,西安,710071
摘    要:在对SiGe HBT(异质结双极晶体管)载流子输运的研究基础上,建立了包括基区扩展效应SiGe HBT发射极延迟时间τe模型.发射极延迟时间与发射结势垒电容和集电结势垒电容密切相关.在正偏情况下,通常采用的势垒区耗尽层近似不再适用,此时需要考虑可动载流子的影响.本文重点分析了电流密度及发射结面积等参数对SiGe HBT发射极延迟时间的影响.

关 键 词:SiGe  HBT  势垒电容  发射极延迟时间
文章编号:0253-4177(2005)07-1384-06
修稿时间:2004年9月27日

An Emitter Delay Time Model of an SiGe HBT
Hu Huiyong,Zhang Heming,Dai Xianying,Zhu Yonggang,Wang Shunxiang,Wang Wei,Cui Xiaoying,Wang Qing,Wang Xiyuan.An Emitter Delay Time Model of an SiGe HBT[J].Chinese Journal of Semiconductors,2005,26(7):1384-1389.
Authors:Hu Huiyong  Zhang Heming  Dai Xianying  Zhu Yonggang  Wang Shunxiang  Wang Wei  Cui Xiaoying  Wang Qing  Wang Xiyuan
Abstract:
Keywords:SiGe HBT  barrier capacitance  emitter delay time
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