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杂志ISSN号
内建可靠性
作者姓名:
史保华
作者单位:
西安电子科技大学
摘 要:
为进一步提高与保证微电路的可靠性,国外新近提出了内建可靠性问题。本文就内建可靠性提出的背景,意义,主要特征,实施要点,以及如何贯彻推广等问题,并结合几个实例作了综合介绍,供国内有关同周参考。
关 键 词:
微电路 可靠性 失效率 内建可靠性
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