| 132 I半衰期的测量 |
| |
| 引用本文： | 毛国淑,张生栋,杨磊,丁有钱,崔安智.132 I半衰期的测量[J].核化学与放射化学,2005,27(4). |
| |
| 作者姓名： | 毛国淑 张生栋 杨磊 丁有钱 崔安智 |
| |
| 摘 要： | 采用位置接力法和HPGe γ谱仪跟踪测量132I的半衰期.位置之间的交替测量避免了效率刻度,设定每次跟踪测量的真时间相等,简化数据处理,并用平移和迭代两种方法进行数据处理.实验测得132I的半衰期为(2.283±0.002)h,经检验数据可靠.
|
| 关 键 词： | 132I 半衰期 测量 |
Measurement of Half-life of 132 I |
| |
| MAO Guo-shu,ZHANG Sheng-dong,YANG Lei,DING You-qian,CUI An-zhi.Measurement of Half-life of 132 I[J].Journal of Nuclear and Radiochemistry,2005,27(4). |
| |
| Authors: | MAO Guo-shu ZHANG Sheng-dong YANG Lei DING You-qian CUI An-zhi |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ |
|
