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GaN基SBD功率器件研究进展
作者姓名:李迪  贾利芳  何志  樊中朝  王晓东  杨富华
作者单位:中国科学院半导体研究所半导体集成技术工程研究中心;
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划)资助项目(2014AA032302);国家重点基础研究发展计划(973计划)资助项目(2012CB934204);国家自然科学基金资助项目(61076077,61274066);北京市科技计划资助项目(Z13110300590000)
摘    要:作为第三代宽禁带半导体器件,GaN基肖特基势垒二极管(SBD)功率器件具有耐高温、耐高压和导通电阻小等优良特性,在功率器件方面具有显著的优势。概述了基于功率应用的GaN SBD功率器件的研究进展。根据器件结构,介绍了基于材料特性的GaN SBD和基于AlGaN/GaN异质结界面特性的GaN异质结SBD。根据器件结构对开启电压的影响,对不同阳极结构器件进行了详细的介绍。阐述了不同的肖特基金属的电学特性和热稳定性。分析了表面处理,包括表面清洗、表面等离子体处理和表面钝化对器件漏电流的影响。介绍了终端保护技术,尤其是场板技术对击穿电压的影响。最后探讨了GaN基SBD功率器件未来的发展趋势。

关 键 词:氮化镓  肖特基势垒二极管(SBD)  功率器件  肖特基金属  漏电流  等离子体处理
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