|
|||||
|
|
| ICP—AES法测定二氧化硅中的微量杂质元素 | |
| 引用本文： | 颜料,虞建平,谭明霞.ICP—AES法测定二氧化硅中的微量杂质元素[J].硅铝化合物,2003(2):32-34. |
| 作者姓名： | 颜料 虞建平 谭明霞 |
| 摘 要： | 试样经硫酸一氢氟酸分解，在盐酸介中用ICP—AES法测二氧化硅中的微量杂质元素．该方法与原子吸收法(AA)和分光光度法相比更为优越，其化学干扰少，操作简便，快速，重显性好，准确度高。测定结果的相对标准偏差(RSD)小于5％。 |
| 关 键 词： | ICP—AES法 测定 二氧化硅 微量杂质元素 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |