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| 电子产品可测试性与可制造性设计 | |
| 引用本文： | 易海根.电子产品可测试性与可制造性设计[J].电子世界,2014(4):115-115. |
| 作者姓名： | 易海根 |
| 作者单位： | 杭州朗鸿科技有限公司 |
| 摘 要： | 随着电子制造行业的迅猛发展与市场竞争的日益激烈,产品质量的重要性愈发突出。本文重点提出面向质量的DFT和DFM设计方法,并应用它来提高产品可测试性和可制造性,提高测试和生产效率,最终达到提高产品质量的目的。 |
| 关 键 词： | 面向质量 DFX 可测试性设计 可制造性设计 |
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