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基于FPGA的边界扫描测试系统设计

作者姓名：	方晓畅

作者单位：	华南师范大学物理与电信学院

摘要：	随着集成电路技术的快速发展,传统的PCB电路板测试所采用探针的方法已经不现实,边界扫描技术解决了这一传统的PCB板测试的难题。本文设计的边界扫描测试系统可以实现对JTAG的访问以及完成对被测电路板器件IDCODE等方面的测试。实验结果表明,该系统测试方便,简单。
关键词：	边界扫描控制器 . FPGA USB.
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