| 基于单片机控制的恒流测试系统 |
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| 引用本文： | 陈广赞,张莉,宋金岩. 基于单片机控制的恒流测试系统[J]. 电测与仪表, 2009, 46(Z1) |
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| 作者姓名： | 陈广赞 张莉 宋金岩 |
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| 作者单位： | 大连理工大学电气工程与应用电子技术系,辽宁大连,116024 |
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| 摘 要： | 针对超级电容器的充放电性能测试,本文设计了一种基于单片机控制的恒流测试系统.该系统的设计思想是由恒流源给超级电容器充电,之后超级电容器再通过恒流模式下的有源电子负载放电,由继电器控制充、放电功能的自动转换.系统采用PIC 16F877A单片机控制,通过对主电路的输出电流和电压实时监控,并根据采集到的电流数据,采用PID算法,实时调整输出电流值,从而提高恒流输出的控制精度.
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| 关 键 词： | 恒流源 电子负载 单片机 超级电容器 |
Based on MCU-controlled Constant-current Test System |
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| CHEN Guang-zan,ZHANG Li,SONG Jin-yan. Based on MCU-controlled Constant-current Test System[J]. Electrical Measurement & Instrumentation, 2009, 46(Z1) |
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| Authors: | CHEN Guang-zan ZHANG Li SONG Jin-yan |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | constant-current supply electronic load chip computer super-capacitor |
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