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基于深度学习的X光安检图像智能识别设备的设计与实现
作者姓名:支洪平  彭志超  鲁盈悦  郑伟伟  王涛
作者单位:科大讯飞(苏州)科技有限公司,江苏苏州,215016;科大讯飞(苏州)科技有限公司,江苏苏州,215016;科大讯飞(苏州)科技有限公司,江苏苏州,215016;科大讯飞(苏州)科技有限公司,江苏苏州,215016;科大讯飞(苏州)科技有限公司,江苏苏州,215016
摘    要:

关 键 词:X光安检  目标检测  人工智能  深度学习
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