| 基于Quartet测试系统的高速DAC芯片测试 |
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| 引用本文： | 赵步云,管杰,戴昌培.基于Quartet测试系统的高速DAC芯片测试[J].电子工业专用设备,2005,34(8):37-42. |
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| 作者姓名： | 赵步云 管杰 戴昌培 |
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| 作者单位： | 北京半导体行业协会测试中心,北京,1000 |
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| 摘 要： | 介绍了通用DAC芯片的主要测量参数及其测试方法。并以12-bit高速DAC芯片ISL5861为例,利用Credence公司的数模混合信号测试系统Quartet实现对高速数模转换芯片进行测试。
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| 关 键 词： | 高速数模转换器芯片 任意波型产生器模拟捕捉器 数模混合信号芯片测试 |
| 文章编号： | 1004-4507(2005)08-0037-06 |
| 收稿时间： | 07 18 2005 12:00AM |
| 修稿时间： | 2005年7月18日 |
Testing of High Speed DAC Chipset by using Test System Quartet |
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| ZHAO Bu-yun,GUAN Jie,DAI Chang-pei.Testing of High Speed DAC Chipset by using Test System Quartet[J].Equipment for Electronic Products Marufacturing,2005,34(8):37-42. |
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| Authors: | ZHAO Bu-yun GUAN Jie DAI Chang-pei |
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| Abstract: | Introduce the parameter and test technology of common DAC. And in this paper I'll introduce how to use the test system Quartet to test high speed mixed signal chipset by using ISL5861 12-bit 130MSP, CMOS, high speed D A converter. |
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| Keywords: | High speed D/A converter AWG/ACP Testing of mixed signal chipset |
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