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| 功率半导体器件少子寿命测试仪 | |
| 引用本文： | 李福德,安涛.功率半导体器件少子寿命测试仪[J].半导体技术,1995(2):58-60,62. |
| 作者姓名： | 李福德 安涛 |
| 作者单位： | 西安理工大学自动化工程系 |
| 摘 要： | 采用线性电流变化法，对功率半导体器件少子寿命测试仪的研制进行了说明，并给出了主要技术参数。该仪器可对整流管、晶闸管及功率晶体管的Ｎ基区小注入下的寿命进行测量，通过τｐ大＝２τｐ小可得到整流管、晶闸管大注入下的少子寿命。 |
| 关 键 词： | 功率半导体器件 少子寿命 线性电流法 |
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