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GaInAsP/InP激光器中与带间吸收、非辐射复合以及载流子泄漏有关的阈值电流的温度依赖性
作者姓名:
M.浅田
屈积建
作者单位:
东京技术研究所物理电子学分部
摘 要:
根据增益、损耗和载流子寿命的测试结果,讨论了发射波长为1.5~1.6μm的GaInAsP/InP激光器的阈值电流对温度的依赖性。其结果表明,大约在超过室温后阈值电流迅速增加主要是带间吸收所致。考虑了因注入而引起的热效应,若使结构参数最佳化,则有希望在高达150℃的温度下实现连续工作。
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