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| 基于NSGA-Ⅱ算法的SoC测试多目标优化研究 | |
| 引用本文： | 谈恩民,王鹏.基于NSGA-Ⅱ算法的SoC测试多目标优化研究[J].电子测量与仪器学报,2011,25(3):226-232. |
| 作者姓名： | 谈恩民 王鹏 |
| 作者单位： | 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院,桂林,541004 |
| 摘 要： | 在系统芯片SoC测试中,测试时间与测试功耗是两个互相影响的因素.多目标进化算法能够处理相互制约的多目标同时优化问题.在无约束条件下,对SoC测试时间与测试功耗建立联合优化模型,并采用多目标进化算法中的改进型非劣分类遗传算法(Non-dominated sorting genetic algorithm Ⅱ,NSGA-Ⅱ... |
| 关 键 词： | NSGA-Ⅱ算法 SoC测试 测试时间 测试功耗 |
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