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静态NMOS存贮器断电信息保护的模拟试验
引用本文:
姜朋广.静态NMOS存贮器断电信息保护的模拟试验[J].计算机工程与设计,1980(2).
作者姓名:
姜朋广
摘 要:
一、前言半导体存贮器具有单片集成、不破坏读出、速度快、功耗小和可靠性高等优点,但不足的是断电时具有易丢失信息的缺点。为克服这个缺点,可采用后备电池电源。当突然断电时,存贮器由后备电池供电,保持原有信息不被破坏,或在计算机断电中断时,
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