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国产V型MCP和Z型MCP的增益特性研究
引用本文:黄敏 戴丽英. 国产V型MCP和Z型MCP的增益特性研究[J]. 光电子技术, 1993, 13(3): 51-54
作者姓名:黄敏 戴丽英
作者单位:南京电子器件研究所 210016
摘    要:采用多级MCP级联技术可大大提高MCP的增益。本文主要介绍了国产V型和Z型2种级联MCP的结构、增益特性测量,并对其测量结果进行了较详细的分析。

关 键 词:增益 微通道板 象增器 光电倍增管

Electron Gain Characteristics Studies of V-Stack MCP and Z-Stack MCP
Huang Min Dai Liying Zhao Wenjin Zhu Shihua Fu Qiang. Electron Gain Characteristics Studies of V-Stack MCP and Z-Stack MCP[J]. Optoelectronic Technology, 1993, 13(3): 51-54
Authors:Huang Min Dai Liying Zhao Wenjin Zhu Shihua Fu Qiang
Abstract:A cascade MCP can provide higher electron gain. The structures of V-stack and Z-stack MCP and the measuring method of their electron gain characteristics are introduced. The measuring results are also discussed.
Keywords:V-stack MCP   Z-stack MCP   electron gain   dark current
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