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一种高性能CMOS带隙电压基准源设计
引用本文:朱樟明,杨银堂,刘帘曦,朱磊. 一种高性能CMOS带隙电压基准源设计[J]. 半导体学报, 2004, 25(5)
作者姓名:朱樟明  杨银堂  刘帘曦  朱磊
作者单位:西安电子科技大学微电子研究所,西安,710071
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划)
摘    要:采用一级温度补偿和电阻二次分压技术设计了一种高性能CMOS带隙电压基准源电路,其输出电压为0.20~1.25V,温度系数为2.5×10-5/K.该带隙电压基准源电路中的深度负反馈运算放大器为低失调、高增益的折叠型共源共栅运算放大器.采用Hspice进行了运算放大器和带隙电压基准源的电路仿真,用TSMC 0.35μm CMOS工艺实现的带隙基准源的版图面积为645μm×196μm.

关 键 词:CMOS  带隙电压基准源  二次分压  温度补偿

Super Performance CMOS Band-Gap Voltage Reference
Abstract:
Keywords:
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