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一种DC~5GHz串联微波开关的温度特性和功率处理能力的测试与分析
引用本文:Lü Miao,Zhao Zhengping,Lou Jianzhong,Gu Hongming,Hu Xiaodong,Li Qian,吕苗,赵正平,娄建忠,顾洪明,胡小东,李倩.一种DC~5GHz串联微波开关的温度特性和功率处理能力的测试与分析[J].半导体学报,2004,25(7).
作者姓名:Lü Miao  Zhao Zhengping  Lou Jianzhong  Gu Hongming  Hu Xiaodong  Li Qian  吕苗  赵正平  娄建忠  顾洪明  胡小东  李倩
作者单位:Insititute of Microelectronics,Xidian University,Xi'an,710071,China;National Key Laboratory of ASIC,Hebei Semiconductor Research Institute,Shijiazhuang,050051,China;Insititute of Microelectronics,Xidian University,Xi'an,710071,China;College of Electronic Information Engineering,Hebei University,Baoding,071002,China;Department of Electronic Engineering,Tsinghua University,Beijing,100084,China;National Key Laboratory of ASIC,Hebei Semiconductor Research Institute,Shijiazhuang,050051,China;西安电子科技大学微电子学研究所,西安,710071;河北半导体研究所砷化镓功率器件和超高速集成电路国防科技重点实验室,石家庄,050051;西安电子科技大学微电子学研究所,西安,710071;河北大学电子信息工程学院,保定,071002;清华大学电子工程系,北京,100084;河北半导体研究所砷化镓功率器件和超高速集成电路国防科技重点实验室,石家庄,050051
摘    要:描述了一种串联微波MEMS开关的设计、制造过程,它制作在玻璃衬底上,采用金铂触点,在DC~5GHz,插损小0.6dB,隔离度大于30dB,开关时间小于30μs.对这种微波开关的温度特性和功率处理能力进行了测试,在DC~4GHz,85℃下的插损增加了0.2dB,-55℃下的插损增加了0.4dB,而隔离度基本保持不变.在开关中流过的连续波功率从10dBm上升到35.1dBm,开关的插损下降了0.1~0.6dB,并且在35.1dBm(3.24W)下开关还能工作.和所报道的并联开关最大处理功率(420mW)相比,该结果说明串联开关具有较大的功率处理能力.

关 键 词:RF  MEMS开关  温度特性  功率处理能力
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