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NEC 14C测量AMS系统离子源升级
引用本文:丁杏芳,付东坡,蒋正元,路祥臣,刘克新. NEC 14C测量AMS系统离子源升级[J]. 原子能科学技术, 2008, 42(Z1)
作者姓名:丁杏芳  付东坡  蒋正元  路祥臣  刘克新
摘    要:为提高样品测量效率,对MC-SNICS多靶位铯溅射负离子源进行了升级改进.改进后的离子源采用球面电离器代替原有的锥面电离器,对供铯系统也进行了比较彻底的改造,通过参数优化,12C-引出流强最大可达近150 μA,比原有离子源提高了1倍以上.流强的提高增加了加速器的束载效应,导致纹波变大,对测量稳定性造成一定影响.通过增加主分析磁铁后的光阑孔径和优化束流传输,可使AMS保持高的测量精度,同时对测量本底未产生大的影响.

关 键 词:加速器质谱  离子源  球面电离器  引出流强

Upgrading of Ion Source for NEC Compact AMS
DING Xing-fang,FU Dong-po,JIANG Zheng-yuan,LU Xiang-chen,LIU Ke-xin. Upgrading of Ion Source for NEC Compact AMS[J]. Atomic Energy Science and Technology, 2008, 42(Z1)
Authors:DING Xing-fang  FU Dong-po  JIANG Zheng-yuan  LU Xiang-chen  LIU Ke-xin
Abstract:
Keywords:
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