| 用时域反射仪对先进BGA封装中供封装故障隔离 |
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| 作者姓名： | Weiliang Yuan Wenhui Zhu Palei Win C.K. Wang H.B. Tan Anthony Y.S. Sun |
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| 作者单位： | United Test and Assembly Center, 5 Serangoon North Ave 5, Singapore 554916 |
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| 摘 要： | 集成电路封装技术变得越来越复杂，其制造的故障分析（FA）十分复杂。介绍了用时域反射仪对先进封装中的故障隔离技术，这种尝试是通过比较法进行研究的。通过在球栅阵列倒装一芯片（fcBGA）和低外形细节距球栅阵列堆叠芯片（stacked—die LFBGA）封装中采用时域反射仪并在分析中卓越的实施证明了这种方法是可行的，其中包括信号质量改善以及范围选择。并使用软件模拟来观测在各种故障模式下的时域反射仪信号，以便以不同的故障模式研究时域反射仪性能。得到的观测结果有助于在封装中用时域反射仪进行故障分析隔离．
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| 关 键 词： | 先进封装 故障分析 故障隔离 时域反射仪 球栅阵列倒装-芯片封装 低外形细节距球栅阵列堆叠芯片 |
| 文章编号： | 1004-4507（2007）12-0013-07 |
| 收稿时间： | 2007-11-30 |
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