| 大功率LED加速寿命试验及问题分析 |
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| 引用本文： | 王亚盛,张丽燕,刁生进.大功率LED加速寿命试验及问题分析[J].半导体技术,2009,34(10). |
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| 作者姓名： | 王亚盛 张丽燕 刁生进 |
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| 作者单位： | 威海职业学院,山东威海,264210;威海高进电子有限公司,山东威海,264209 |
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| 摘 要： | 采用国家标准(GB1772)规定的电子元器件加速寿命试验方法,选择了工作环境温度作为加速应力,设计了四个应力等级的大功率LED加速寿命试验方案并进行试验.试验结果为每个应力等级下的失效模式有2～3种,不同应力级别确定的激活能有一定的差异.通过对金丝引线球焊处开裂、金属化层失效等主要失效机理的产生原因以及温度、电流密度之间关系分析,认为基于Arrhenius模型进行大功率LED加速寿命试验存在不足和缺陷,不能准确地预测稳态温度下的LED寿命,应当对Arrhenius模型进行修正.
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| 关 键 词： | 大功率LED 激活能 失效机理 加速寿命 |
Test and Analysis of High-Power LED Accelerated Life |
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| Wang Yasheng,Zhang Liyan,Diao Shengjin.Test and Analysis of High-Power LED Accelerated Life[J].Semiconductor Technology,2009,34(10). |
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| Authors: | Wang Yasheng Zhang Liyan Diao Shengjin |
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