| 特征元素增量法直接测定富镍矿石的品位 |
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| 引用本文： | 夏尚铭,赖万昌,于姗姗,程锋,郭伟. 特征元素增量法直接测定富镍矿石的品位[J]. 核电子学与探测技术, 2008, 28(5) |
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| 作者姓名： | 夏尚铭 赖万昌 于姗姗 程锋 郭伟 |
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| 作者单位： | 成都理工大学核技术与自动化工程学院,成都,610059;中科华核电技术研究院有限公司北京分公司,北京,100086 |
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| 摘 要： | 采用便携式高分辨率能量色散X射线荧光仪和特征元素增量法对未知富镍矿石进行测定。实验结果表明：对含Ni为1％～3％的镍矿石，增量法分析的相对误差小于2％，达到部分允许误差限要求。
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| 关 键 词： | XPF 增量法 基体效应 镍矿 |
The measure on rich Ni ore by the characteristic chemical element increases the quantity method |
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| XIA Shang-ming,LAI Wan-chang,YU Shan-shan,CHENG Feng,GUO Wei. The measure on rich Ni ore by the characteristic chemical element increases the quantity method[J]. Nuclear Electronics & Detection Technology, 2008, 28(5) |
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| Authors: | XIA Shang-ming LAI Wan-chang YU Shan-shan CHENG Feng GUO Wei |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | XPF |
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