| 基于FPGA的数字IC交流参数测试系统研究 |
| |
| 引用本文： | 刘凤伟,詹惠琴,古军. 基于FPGA的数字IC交流参数测试系统研究[J]. 电子与封装, 2010, 10(10): 12-15 |
| |
| 作者姓名： | 刘凤伟 詹惠琴 古军 |
| |
| 作者单位： | 电子科技大学自动化工程学院,成都,610054;电子科技大学自动化工程学院,成都,610054;电子科技大学自动化工程学院,成都,610054 |
| |
| 摘 要： | 大规模集成电路的应用促进了国民经济的发展,同时带动了各类集成电路自动测试系统的发展,特别是高速器件的测试要求交流参数测试稳定性好,分辨率高。基于这一要求,介绍了数字集成电路交流参数测试系统的基本构成,并且介绍了数字集成电路交流参数测试的基本内容和测量方法,讨论了内插技术在时间测量上的应用和FPGA中专用时间进位链构建延迟线的基本方法,研究了该技术在数字集成电路交流参数测试仪上的应用,最后应用软件QuartusⅡ9.0验证了延迟线实现方法,并且给出了仿真波形和测试结果。
|
| 关 键 词： | 延迟线 交流参数 数字集成电路 测试系统 |
Research of Digital IC AC Test System based on FPGA |
| |
| LIU Feng-wei,ZHAN Hui-qin,GU Jun. Research of Digital IC AC Test System based on FPGA[J]. Electronics & Packaging, 2010, 10(10): 12-15 |
| |
| Authors: | LIU Feng-wei ZHAN Hui-qin GU Jun |
| |
| Affiliation: | LIU Feng-wei,ZHAN Hui-qin,GU Jun(School of Automation,University of Electronic Science and Technology of China,Chengdu 610054,China) |
| |
| Abstract: | The application of large scale integrated circuit promote the development of national economy,and bring with the development of various types of integrated circuit automatic test system,especially in high-speed device alternant parameter test system which requires stability,high resolution,for this requirement,introduced the basic composition of digital Integrated circuit alternant parameter test system,and the basic content and methods of digital Integrated circuit alternant parameter test,then discussed i... |
| |
| Keywords: | delay line AC parameter digital IC test-system |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
|
