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应变层Si1—x—yGexCy合金研究
引用本文:于卓,余金中.应变层Si1—x—yGexCy合金研究[J].半导体杂志,1997,22(2):25-33.
作者姓名:于卓  余金中
作者单位:中国科学院半导体研究所
摘    要:本文综述了Si1-x-yGexCy合金的研究进展,包括合金的应变补偿效应,微观结构,能带结构和光电特性等。

关 键 词:合金  应变补偿  能带结构  碳化硅  半导体材料
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