2000年的集成电路测试 |
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引用本文: | 方强.2000年的集成电路测试[J].电子测试,2000(6):210-211. |
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作者姓名: | 方强 |
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摘 要: | 在1965年戈登·摩尔发表举世闻名的“摩尔定律”,预测集成电路的晶体管数目每隔18个月增加一倍。三十五年来,集成电路历经小规模、中规模、大规模、超大规模至特大规模的发展,证明该定律的正确性,而且在二十一年纪的头十年该定律仍然有效。可以预期,2000年将开发成集成度达1亿个晶体管的微处理器,2010年集成度达到10亿个晶体管的微处理器。集成电路的集成度越高,芯片的成本也越高,电路设计和生产过程中任何疏漏,都影响最终成品率。质量的保证由每个环节的测试仪器把关,芯片封装前后的测试更为重要。进入新千年之际,集成电路测试业面临有三个值得注意的问题,它们是: 1.速度与精度;
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关 键 词: | 集成电路 测试 速度 精度 |
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