首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

HC08单片机LVI模块功能分析及其测试过程
引用本文:张磊.HC08单片机LVI模块功能分析及其测试过程[J].电子质量,2009(5):22-23.
作者姓名:张磊
作者单位:天津铁道职业技术学院,天津,300240
摘    要:LVI模块作为HC08单片机的重要组成部分,保障了单片机的可靠运行,在工业应用中发挥着重要作用。文章阐述了HC08型单片机LVI模块组成结构,作用原理及其基本应用。特别介绍了LVI的常用指令,寄存器设置。分析了LVI模块的一般测试过程,并专门针对J750测试机分析了它的测试参数。

关 键 词:HC08  LVI  单片机  电压抑制  失效
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号