| X射线能谱重叠峰的识别 |
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| 引用本文： | 雷平. X射线能谱重叠峰的识别[J]. 理化检验(物理分册), 2001, 37(5): 195-197 |
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| 作者姓名： | 雷平 |
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| 作者单位： | 贵州师范大学实验中心, |
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| 摘 要： | 提出一种通过谱线权重来正确识别X射线能谱重叠峰的新方法，应用该方法，成功地分析了Ti合金微区中能量差为20eV的Ｔi的Ｖ的重叠峰，实验表明，该方法简便，可靠，并可适用于Ｋ－Ｚn之间元素的分析。
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| 关 键 词： | X射线能谱仪 重叠峰 谱线权重 微区分析 Ti合金 元素分析 |
| 文章编号： | 1001-4012(2001)05-0195-03 |
| 修稿时间： | 2001-02-19 |
IDENTIFICATION OF EDS OVER LAP PEAKS |
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| LEI Ping. IDENTIFICATION OF EDS OVER LAP PEAKS[J]. Physical Testing and Chemical Analysis Part A:Physical Testing, 2001, 37(5): 195-197 |
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| Authors: | LEI Ping |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | EDS Overlap peaks Weighting of lines |
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