首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

多层陶瓷电容器的失效与分析
引用本文:汪张超,彭川.多层陶瓷电容器的失效与分析[J].混合微电子技术,2009(2):36-39.
作者姓名:汪张超  彭川
作者单位:[1]中国电子科技集团公司第43研究所,合肥230022 [2]中国人民解放军空军驻合肥地区军事代表室,合肥230035
摘    要:本文陈述了多层陶瓷电容器的失效模式,分析了造成多层陶瓷电容器失效的内在因素和外在的因素。结合电容的失效模式与实例,进一步阐述多层陶瓷电容器的失效分析方法和几点使用建议。

关 键 词:多层陶瓷电容器  失效模式  扫描电镜  超声电镜
本文献已被 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号