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| 应用几种谱仪测定大量~(242)Cm中的少量~(241)Am | |
| 引用本文： | 乔盛忠 ,佟伯庭 ,吕峯 ,朱荣保 ,杨留成 ,徐颖璞.应用几种谱仪测定大量~(242)Cm中的少量~(241)Am[J].原子能科学技术,1977(4). |
| 作者姓名： | 乔盛忠 佟伯庭 吕峯 朱荣保 杨留成 徐颖璞 |
| 摘 要： | 本文介绍了用Si(Li)谱仪,Ge(Li)谱仪和α-γ符合谱仪测定大量~(242)Cm中少量~(241)Am杂质的方法。描述了三种方法的特点,并比较了它们的测量灵敏度和准确度。 |
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