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时序电路的状态测试研究
引用本文:
何新华,隋然,蔡红柳,张威.时序电路的状态测试研究[J].计算机应用,2000(Z1).
作者姓名:
何新华
隋然
蔡红柳
张威
作者单位:
装甲兵工程学院信息工程系!北京丰台100072
摘 要:
根据时序电路单固定故障所产生的状态变换特征 ,分析了基于单状态变换故障模型的测试问题 ,给出了测试序列的精简方法 ,最后简要分析了无复位时序电路的测试问题。
关 键 词:
状态变换图(STG)
状态压缩
精简
固定故障
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