首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

55~·K绝对温度简易获得法及在此温度下确定P型硅补偿度
作者姓名:韩朝林  王祥麟
作者单位:电子部十三所(韩朝林),河北电视大学(王祥麟)
摘    要:本工作提出了一种利用液氮获得55°K绝对温度的简单方法,不需改装原设备,更不必增加昂贵设备.在此温度下测定了掺硼P型硅半导体材料的杂质补偿度,样品受单一能级控制时,结果与77°K弱场磁阻法完全一致,显示了本法的实际价值.

本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号