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一种可改善稳压器闩锁效应的过流保护电路
引用本文:程晓洁, 冯全源,.一种可改善稳压器闩锁效应的过流保护电路[J].电子器件,2006,29(4):1075-1077.
作者姓名:程晓洁  冯全源  
作者单位:西南交通大学微电子研究所,成都,610031;西南交通大学微电子研究所,成都,610031
基金项目:国家自然科学基金;四川省学术与技术带头人培养基金
摘    要:分析了两种过流保护方法的功能及优缺点,研究并提出了一种可应用于集成稳压器中改善闩锁效应的foldback过流保护电路。通过在一般foldback电路中增加限流功能改变曲线的斜率,避免与负载曲线相交,从而解决稳压器的闩锁问题。在0.6um标准CMOS工艺下,Hspice仿真证明了该电路的可行性和可靠性。

关 键 词:过流保护  稳压器  闩锁  限流
文章编号:1005-9490(2006)04-1075-03
收稿时间:2006-01-16
修稿时间:2006-01-16

Over-Current Protection Circuit for Improving Regulators Latch-up Effect
CHENG Xiao-jie,FENG Quan-yuan.Over-Current Protection Circuit for Improving Regulators Latch-up Effect[J].Journal of Electron Devices,2006,29(4):1075-1077.
Authors:CHENG Xiao-jie  FENG Quan-yuan
Affiliation:Microelectronics Institute, Southwest Jiaotong University, Chengdu 610031, China
Abstract:
Keywords:over-current protection  regulator  latch-ups current limiting
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