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| 用充Kr(CH4)的屏栅电离室测量64Zn(n,α)61Ni反应截面和角分布 | |
| 引用本文： | 袁镜,陈泽民,唐国有,陈金象,张国辉,Yu.M.Gledonov,M.V.Sedysheva.用充Kr(CH4)的屏栅电离室测量64Zn(n,α)61Ni反应截面和角分布[J].核电子学与探测技术,2002,22(5):442-444. |
| 作者姓名： | 袁镜 陈泽民 唐国有 陈金象 张国辉 Yu.M.Gledonov M.V.Sedysheva |
| 作者单位： | 1. 清华大学物理系,北京,100084 2. 北京大学教育部重点实验室,北京,100871 3. Joint Institute for Nuclear Research, Dubna 141980,Russia |
| 摘 要： | 用屏栅电离室重点对 5 .0、5 .7、6 .5 Me V中子 64Zn(n,α) 61Ni反应角分布和微分截面进行了测量 ,同时兼测 10 B(n,α) 7Li,利用氚气体通过 D(d,n) 3 He反应来刻度 ,工作气体采用 Kr+ 4 .71% CH4,由于采用了 Kr+ 4 .71% CH4为工作气体 ,消除了 16O的 (n,α)干扰。首次很清晰地得到了多组激发态的64Zn(n,α) 61Ni的事件双维谱以及激发态的 10 B(n,α) 7L i事件双维谱 ,测量结果表明 64Zn(n,α) 61Ni的角分布在 5 .7Me V时很接近 90°对称 ,而到 6 .5 Me V时明显后倾。 |
| 关 键 词： | 屏栅电离室 64Zn(n α)61Ni反应 10B(n α)7Li反应 角分布 |
| 文章编号： | 0258-0934(2002)05-0442-03 |
| 修稿时间： | 2000年6月10日 |
Measurement of cross section and angular distribution for 64zn(n,α)61 Ni by using gridded ionization chamber of Kr(CH4) gas |
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| Yu.M.Gledonov,M.V.Sedysheva.Measurement of cross section and angular distribution for 64zn(n,α)61 Ni by using gridded ionization chamber of Kr(CH4) gas[J].Nuclear Electronics & Detection Technology,2002,22(5):442-444. | |
| Authors: | YuMGledonov MVSedysheva |
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| Keywords: | |
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