首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

RF反应溅射条件对ZnO透明导电薄膜的影响
引用本文:倪星元,吴永刚,吴广明,周箴,张慧琴,金哲民.RF反应溅射条件对ZnO透明导电薄膜的影响[J].材料科学与工程学报,1998(2).
作者姓名:倪星元  吴永刚  吴广明  周箴  张慧琴  金哲民
作者单位:同济大学
摘    要:ZnO薄膜是具有多种特性的功能薄膜。采用RF磁控反应溅射的方法可制备出较高质量的ZnO透明导电薄膜。该薄膜的电阻率为7.5×10-3Ωcm;可见光透射率约为85%;载流子浓度为5.7×1019cm-3;霍尔迁移率为5.99cm2/v·s。影响ZnO透明导电薄膜性能的因素很多,但是溅射用的靶体材料,反应溅射时的温度控制以及反应的氧气氛的控制尤为重要,实验表明使用掺有3.0wt%Al2O3的ZnO靶,基片温度控制在300℃,氧氩比为1∶10能制备出性能比较好的透明导电薄膜。本文对这三方面的影响进行实验并讨论了有关结果。

关 键 词:ZnO薄膜  RF溅射  透明导电薄膜
本文献已被 CNKI 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号