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| 钯镍合金电沉积层的XRD研究 | |
| 引用本文： | 李凤凌,杨防祖,李振良,佘沛亮,姚士冰,周绍民.钯镍合金电沉积层的XRD研究[J].材料保护,1999,32(3):4-5. |
| 作者姓名： | 李凤凌 杨防祖 李振良 佘沛亮 姚士冰 周绍民 |
| 作者单位： | 厦门大学化学系,361005 |
| 摘 要： | 利用Ｘ－射线衍射技术对钯镍合金镀的微观结构，特别是晶体的微晶尺寸，晶胞参数，微观应力，择优取向等进行了研究。实验发现，该合金镀层为面心立方的固溶体结构，呈（２００）择优取向，晶胞参数随镀层中镍含量的增大而减小，镀层的微晶尺寸及微观应力等随镀层中镍含量的增大而增大。 |
| 关 键 词： | 钯镍合金镀层 电沉积 |
Microstructure of Pd-Ni Alloy Electrodeposit |
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| Abstract: | |
| Keywords: | XRD |
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