LPCVD氮化硅薄膜工艺研究 |
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作者姓名: | 高博 |
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作者单位: | 中国兵器工业第214研究所,蚌埠233042 |
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摘 要: | 氮化硅薄膜在半导体器件制造、薄膜加工、MEMS中有着广泛的应用。利用低压化学气相淀积(LPCVD)技术,在800℃温度下,不同的工艺气体流量比生成的氮化硅薄膜,其薄膜成份中的硅氮比会有不同,造成薄膜特性也不同。通过测试氮化硅薄膜在缓冲腐蚀液(BOE)中的腐蚀速率,来推定氮化硅所含硅氮成分,寻找出适合生产的最佳工艺条件。
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关 键 词: | 低压化学气相淀积(LPCVD) 氮化硅 均匀性 |
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