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X波段GaN HEMT的研制
引用本文:王勇,冯震,宋建博,李静强,冯志宏,杨克武.X波段GaN HEMT的研制[J].半导体技术,2008,33(8).
作者姓名:王勇  冯震  宋建博  李静强  冯志宏  杨克武
作者单位:中国电子科技集团公司第十三研究所,专用集成电路国家重点实验室,石家庄,050051;中国电子科技集团公司第十三研究所,专用集成电路国家重点实验室,石家庄,050051;中国电子科技集团公司第十三研究所,专用集成电路国家重点实验室,石家庄,050051;中国电子科技集团公司第十三研究所,专用集成电路国家重点实验室,石家庄,050051;中国电子科技集团公司第十三研究所,专用集成电路国家重点实验室,石家庄,050051;中国电子科技集团公司第十三研究所,专用集成电路国家重点实验室,石家庄,050051
基金项目:国家重点基础研究发展计划(973计划)
摘    要:采用双台面隔离工艺,实现了器件有源区隔离,隔离电压大于250 V/10μA.通过对金属化前和介质膜淀积前的预处理过程的改进,实现了较理想的肖特基势垒特性,电压也得到了大幅度提高,理想因子n值小于1.7,源漏击穿电压大于50 V/1 mA,栅源击穿电压大于40 V/1 mA,最终实现器件X波段连续波输出功率20 W,功率增益7 dB,功率密度8 W/mm.

关 键 词:氮化镓高电子迁移率晶体管  肖特基势垒  击穿电压  输出功率

Research on X-Band GaN HEMT
Wang Yong,Feng Zhen,Song Jianbo,Li Jingqiang,Feng Zhihong,Yang Kewu.Research on X-Band GaN HEMT[J].Semiconductor Technology,2008,33(8).
Authors:Wang Yong  Feng Zhen  Song Jianbo  Li Jingqiang  Feng Zhihong  Yang Kewu
Affiliation:Wang Yong,Feng Zhen,Song Jianbo,Li Jingqiang,Feng Zhihong,Yang Kewu(National Key Lab. of ASIC,The 13th Research Institute,CETC,Shijiazhuang 050051,China)
Abstract:
Keywords:GaN HEMT  Schottky barrier  breakdown voltage  output power  
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